Aplicaciones de la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) y Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) para el estudio en ciencia de los materiales (2do sem 2026)

Subáreas: BCM-BQ, BF, BOT, FIS y ZOO

Contenido del curso:

El curso tiene como objetivo principal capacitar a estudiantes de posgrado y grado en la utilización y aplicaciones de tres técnicas fundamentales para el estudio de materiales: la Microcopía Electrónica de Barrido (SEM), la Microcopia de Fuerza Atómica (AFM) y la Microscopía Raman con AFM (MR-AFM). Se abordarán los fundamentos físicos, métodos de preparación de muestras, adquisición e interpretación de imágenes y análisis cuantitativo en distintas clases de materiales, incluyendo metales, cerámicos, polímeros, biomateriales y nanomateriales. La formación será teórico-práctica, con fuerte énfasis en el desarrollo de habilidades experimentales y análisis crítico de resultados.

Modalidad: Presencial